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高频介电常数仪
产品简介

LDJD-C高频介电常数仪原理:
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质;
通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。

产品型号:LDJD-C
更新时间:2025-06-11
厂商性质:生产厂家
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LDJD-C高频介电常数仪介绍:

介电常数测试仪采用高频谐振法,并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。

它以单片机控制仪器,测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术,改进了调谐回路;

使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量时更为精确。

仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量;

电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

高频介电常数仪参数:

LDJD-A型介电常数及介质损耗测试仪 信号源频率覆盖范围10kHz~70MHz;主电容调节范围:30~550pF;

LDJD-B型介电常数及介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围10kHz~110MHz,主电容调节范围:30~540pF;

LDJD-C型介电常数及介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围100kHz~160MHz,主电容调节范围: 17~240pF(一体镀银成型,精度高);带步进马达,电容自动搜索

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