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  • ZST-212体积电阻率测定仪 表面电阻测试仪
    体积电阻率测定仪 表面电阻测试仪

    航天伟创ZST-212 全自动体积表面电阻率测试仪 体积电阻率测定仪 表面电阻测试仪适用于测试固体、液体、粉体的体积电阻率、表面电阻率、绝缘电阻,精度高达1%。

    产品型号:

    ZST-212

    厂商性质:

    生产厂家

    更新时间:

    2025-06-11

    浏览次数:

    2169

  • ZST-212薄膜体积表面电阻测试仪 航天伟创
    薄膜体积表面电阻测试仪 航天伟创

    薄膜体积表面电阻测试仪 航天伟创用于测量绝缘材料、电工产品、各种元器件的绝缘电阻;该仪器具有测量精度高、性能稳定、操作简单、测试完毕后高压短路放电保护等优点,仪器的最一高量程10^17Ω电阻值。

    产品型号:

    ZST-212

    厂商性质:

    生产厂家

    更新时间:

    2025-06-11

    浏览次数:

    1553

  • ZST-212绝缘材料体积表面电阻率测试仪 高阻计
    绝缘材料体积表面电阻率测试仪 高阻计

    ZST-212绝缘材料体积表面电阻率测试仪 高阻计用于测试电工电子绝缘材料的绝缘性能。

    产品型号:

    ZST-212

    厂商性质:

    生产厂家

    更新时间:

    2025-06-11

    浏览次数:

    1655

  • LDJD-CPCB板介电常数测定仪 介质损耗因素测试仪
    PCB板介电常数测定仪 介质损耗因素测试仪

    LDJD-CPCB板介电常数测定仪 介质损耗因素测试仪的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能,能够快速的找到被测量器件的谐振点,自动读出Q值和其他参数。

    产品型号:

    LDJD-C

    厂商性质:

    生产厂家

    更新时间:

    2025-06-11

    浏览次数:

    2035

  • LDJD-B薄膜介电常数测定仪 阻抗分析仪 LCR表
    薄膜介电常数测定仪 阻抗分析仪 LCR表

    LDJD-B薄膜介电常数测定仪 阻抗分析仪 LCR表以DDS数字直接合成方式产生信号源,频率达70MHz/110MHz /160MHz,信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点,更保证了测量精度的精确性。

    产品型号:

    LDJD-B

    厂商性质:

    生产厂家

    更新时间:

    2025-06-11

    浏览次数:

    1557

  • LDJD-A液体介电常数测试仪 介质损耗测定仪
    液体介电常数测试仪 介质损耗测定仪

    LDJD-A液体介电常数测试仪 介质损耗测定仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

    产品型号:

    LDJD-A

    厂商性质:

    生产厂家

    更新时间:

    2025-06-11

    浏览次数:

    1351

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