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产品名称:160MHz介电常数仪——航天伟创

发布时间:2020-05-28

产品型号:LDJD-C

产品特点:160MHz介电常数仪——航天伟创
LDJD-C型介电常数及介质损耗测试仪作为新一代通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到160MHz。

LDJD-C160MHz介电常数仪——航天伟创的详细资料:

 LDJD-C型160MHz介电常数仪——航天伟创

 

一、主要参数

1. 信号源频率覆盖范围100kHz160MHz

2. 信号源频率精度3×10-5 ±1个字, 6位有效数字;信号频率覆盖比110001;采样精度12BIT(高精度A/D采样);

3Q值测量范围:11000自动/手动量程;Q值分辨率0.14位有效数字;Q值测量工作误差<5%

4Q值量程分档:301003001000、自动换档或手动换档;

5.电感测量范围:1nH140mH,分辨率0.1nH,自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能;

6.电容直接测量范围:1pF25nF,分辨率0.1pF,准确度 150pF以下±1pF150pF以上±1%                                      

7.主电容调节范围: 17240pF(一体镀银成型,精度高);带步进马达,电容自动搜索;                                        

8 材料测试厚度:0.1mm~10mm

9 合格指示预置功能范围:51000

10LCD显示参数FLCQLtCt波段等;

11.环境温度:0℃+40℃

12.消耗功率:约25W;电源:220V±22V50Hz±2.5Hz

13.(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:

数显式微杆,平板电容器:

极片尺寸: 38mm

极片间距可调范围:≥15mm

夹具插头间距:25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×104 1MHz

测微杆分辨率:0.001mm

测试极片:材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

*液体杯:测量极片直径 Φ38mm 液体杯内径Φ48mm 、深7mm

14. 电感组LKI-1

分别由0.05μH0.1μH0.5μH2.5μH10μH50μH100μH1mH5mH10mH十个电感组成。

介质损耗测试方法与步骤

1.   主机C0值的计算方式:

a)   选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端;

b)   将调谐电容器调到200P左右,令这个电容是C4

c)   按下仪器面板的频率搜索键,使测试回路谐振,谐振时Q的读数为Q4(注:若频率搜索未能找到最&高Q值谐振点,可以通过频率旋钮来微调频率来达到Q值最大值的谐振点;

d)   将测试夹具接在“Cx”两端,放入材料,上下极片夹紧材料后记住夹具显示值,然后拿出材料,调回到夹具的显示数值,调节主调电容,使测试电路重新谐振,此时可变电容器值为C3,Q值读数为Q3。(注:C3数值肯定比C4要小)

机构电容的有效电容为:Cz= C4-C3

分布电容为机构电容CZ和电感分布电容CL(参考电感的技术说明)的和

介质损耗系数/介质损耗正切值为

2. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。

3. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。

4. 被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平直。

5. 调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO 清零按键,初始值设置为0。再松开两片极片,把被测样品夹入两片极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,到的平板电容极片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2,改变主机上的主调电容容量,使主机处于谐振点(Q值最大值,为了得到准确的Q值请耐心来回调节主调电容,当Q为最大值时候可以稍等1分钟,等Q值稳定),然后按一次 主机上的小数点(tgδ)键(请用绝缘材料来按,不要用手来按),在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x(C0=Cz+CL电感分布电容)需要手动输入,记住厚度D2的值,此时显示数值为C2和Q2

6. 取出S916测试夹具中的样品,(保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变)这时主机又失去谐振(Q值变小),再改变主机上的主调电容容量,使主机重新处于谐振点(Q值最大值,为了得到准确的Q值请耐心来回调节主调电容,当Q为最大值时候可以稍等1分钟,等Q值稳定))上。

7. 注意:多次测试同一个材料时,要求保持每次材料厚度的读数一致。

8. 第二次按下 主机上的小数点(tgδ)键,显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1,同时显示介质损耗系数tn =.x x x x x ,即完成测试。

9. 出错提示,当出现tn =  NO 显示时,说明测试时出现了差错,发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。

 

附录

显示数据介绍:

 

C1

材料拿出后,谐振时测得的电容值

C2

材料在夹具中,谐振时测得的电容值

Q1

材料拿出后,谐振时测得的Q值

Q2

材料在夹具中,谐振时测得的Q值

CZ

主机+测试夹具测得的结构电容值

CL

标准电感的分布电容值

C0

结构电容值+电感的分布电容值

D2

材料的厚度

tn

介质损耗系数/介质损耗正切值

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

附录

LKI-1电感组

LKI-1型电感组共包括不同电感量的电感9个,凡仪器在进行测试线圈的分布电容量,电容器的电容量,高频介质损耗,高频电阻和传输线特性阻抗等高频电路和元件的电性能时,必须用电感组作辅助工具。

本电感组有较高Q值,能使仪器测量时得到尖锐谐振点,因而增加其测量的准确度,各电感的有关数据如下表:

电感No

电感量

准确度%

Q值≥

分布电容约略值

谐振频率范围 MHz

适合介电常数测试频率

QBG-3E/3F

AS2853A

1

0.1μH

±0.05μH

180

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14.8~46.6

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

180

6pF

1~3.75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0.75~2.64

1.06~3.20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.148~0.39

0.25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0.1MHz

10

15nH

±10%

40

0

 

100

100MHz

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

附录

粘性材料以及超薄材料的测试方法

一  如何测试带粘性超薄绝缘材料的介电常数

1 用锡箔纸覆胶在材料的两面,上下层锡箔纸不能接触。锡箔纸厚度为DX;

2 超薄材料需要叠加:叠加方式如下

                                   250μ贴合6层后测试;

200μ贴合8层后测试;

175μ贴合9层后测试;

125μ贴合12层后测试;

100μ贴合15层后测试;

75μ贴合20层后测试;

50μ贴合30层后测试。

3 计算公式

  Σ=(D2-2*DX)/D4

4 介质损耗系数测试同理

LDJD-C型160MHz介电常数仪——航天伟创

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