欢迎来北京航天伟创设备科技有限公司!我们将为您提供周到的服务!
产品分类

Product classification

相关文章

Related article

产品中心
首页 > 产品中心 > 介电常数测试仪 > 介电常数测定仪

产品名称:介电常数测定仪

发布时间:2020-04-10

产品型号:LDJD-C

产品特点:介电常数测定仪适用于高分子复合材料、绝缘漆、尼龙制品材料、硅橡胶、硫化橡胶、橡胶、塑料、聚酯薄膜、聚四氟乙烯、环氧树脂、电缆料、纳米材料、导热材料、硅胶片、绝缘材料、光伏材料、塑胶原料、高分析材料、功能膜材料、塑料制品、绝缘软管、热塑性塑料材料、板材和片状材料、绝缘纸、软管和软套管、广电新材料、聚合物材料、涂料涂层、纤维制品、PVA/PP/PE、通用塑料、工程塑料、塑料助剂

LDJD-C介电常数测定仪的详细资料:

 

LDJD-B 介电常数测定仪

LDJD-C 介电常数测定仪

测量电气绝缘材料在工频、音频、高频

(包括米波波长在内)

下电容率和介质损耗因数的推荐方法.

 

  1. 范围

本标准规定了在15Hz-300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法,并由此计算某些数值,如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法,也能用于其他频率下测量。

本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关,例如频率、温度、湿度,在特殊情况下也与电场强度有关。

有时在超过1000V的电压下试验,则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应,对此不予论述。

  1. 规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注日期的引用文件,其版本适用于本标准。

IEC60247:1978 液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量

  1. 术语和定义

下列术语和定义适用于本标准。

3.1  相对电容率 relative permittivity

εr

电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时,其电容Cx与同样电极构形的真空电容C0之比:

           …………(1)

式中:

εr——相对电容率;

Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容;

C0——真空中电容器的电极电容。

在标准大气压下,不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率εr等于1.00053。因此,用这种电极构形在空气中的电容Ca来代替C0测量相对电容率εr时,也有足够的精确度。

在一个测量系统中,绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数ε0的乘积。

在SI制中,绝对电容率用法/米(F/m )表示。而且,在SI单位中,电气常数ε0为:

 …………(2)

在本标准中,用皮法和厘米来计算电容,真空电气常数为:

      …………(3)

3.2  介质损耗角 dielectric loss angle

δ

由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。

3.3  介质损耗因数  dielectric dissipation factor

tanδ

损耗角δ的正切。

3.4  〔介质〕损耗指数  [dielectric] loss index

εr

该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。

3.5  复相对电容率  complex relative permittivity

εr

由相对电容率和损耗指数结合而得到的:

        ………………(3)

          ………………(4)

        ………………(5)

         ………………(6)

式中:

εr——复相对电容率;

εr”——损耗指数;

εr’、 εr——相对电容率;

tanδ——介质损耗因数。

注 :有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示,或用电容Cp和电阻Rp或电导Gp )的并联电路表示。

并联等值电路               串联等值电路

    

……(7)    ……(8)

式中:

Cs——串联电容;

Rs——串联电阻;

Cp——并联电容;

Rp——并联电阻。

虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的,但在单一频率下有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。

串联元件与并联元件之间,成立下列关系:

     ………………(9)

    ………………(10)

    ………………(11)

式(9), (10), (11)中Cs、Rs、Cp、Rp、tanδ同式(7),(8)。

无论串联表示法还是并联表示法,其介质损耗因数tanδ是相等的。

假如测量电路依据串联元件来产生结果,且tanδ太大而在式(9)中不能被忽略,则在计算电容率前必须先计算并联电容。

本标准中的计算和侧量是根据电流(ω=2πf)正弦波形作出的。

留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

北京航天伟创设备科技有限公司专业提供LDJD-C介电常数测定仪等产品信息,欢迎来电咨询!

Copyright © 2019 版权所有:北京航天伟创设备科技有限公司  ICP备案号:  管理登陆  技术支持:化工仪器网   总流量:31262  网站地图

在线客服 联系方式

服务热线

18618396246