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薄膜介电常数测定仪 阻抗分析仪 LCR表

简要描述:LDJD-B薄膜介电常数测定仪 阻抗分析仪 LCR表以DDS数字直接合成方式产生信号源,频率达70MHz/110MHz /160MHz,信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点,更保证了测量精度的精确性。

  • 产品型号:LDJD-B
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-11-02
  • 访  问  量:123

详细介绍

品牌航天伟创价格区间2万-5万
产地类别国产应用领域电子,交通,汽车,电气,综合
信号源频率10kHz~110MHz信号源频率精度3×10^-5 ±1个字
信号频率覆盖比11000:1采样精度11BIT
Q值测量范围1~1000Q值分辨率0.1
Q值测量工作误差<5%

 功能特点

 

LDJD-B薄膜介电常数测定仪 阻抗分析仪 LCR表以DDS数字直接合成方式产生信号源,频率达110MHz ,信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点,更保证了测量精度的精确性。LDJD-B主电容调节用传感器感应,电容读数精确,且频率值可设置。

LDJD-B薄膜介电常数测定仪 阻抗分析仪 LCR表电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示,在某一频率下,只要能找到谐振点,都能直接读出电感、电容值,大大扩展了电感的测量范围,而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。

LDJD系列的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能,能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点,自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。

技术参数

1. 信号源频率覆盖范围10kHz~110MHz;

2. 信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数字;信号频率覆盖比11000:1;采样精度11BIT;

3.Q值测量范围:1~1000自动/手动量程;Q值分辨率0.1,4位有效数字;Q值测量工作误差<5%;

4.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;

5.电感测量范围:1nH~8.4H,分辨率0.1nH,测量误差<3%,自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能;

6.电容直接测量范围:1pF~2.5uF;                                 

7.主电容调节范围:30~540pF;                                        

8.  电容测量准确度 150pF以下±1pF;150pF以上±1% ;分辨率0.1pF;

9.材料测试厚度:0.1mm~10mm;                                        

10.合格指示预置功能范围:5~1000;

11.  LCD显示参数F,L,C,Q,Lt,Ct波段等;

12.环境温度:0℃~+40℃;

13.消耗功率:约25W;电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

14.  S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:

数显式微杆

平板电容器:

极片尺寸: Φ50mm/Φ38mm可选

极片间距可调范围:≥15mm

夹具插头间距:25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

测微杆分辨率:0.001mm

测试极片:材料测量直径Φ50mm/Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

15. 电感组LKI-1:

分别由0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。

16. 主机尺寸:(宽×高×深)mm:380×132×280

17. 重量约:7KG


 

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