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硅油介电常数测量仪——航天伟创

简要描述:LDJD-C型硅油介电常数测量仪——航天伟创
LDJD-C型介电常数及介质损耗测试仪作为新一代通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到160MHz。

  • 产品型号:LDJD-C
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2020-11-13
  • 访  问  量:234

详细介绍

品牌自营品牌价格区间2万-5万
应用领域化工,石油,能源,建材,综合

LDJD-C型硅油介电常数测量仪——航天伟创

LDJD-C型介电常数及介质损耗测试仪为160Hzi介电常数测试仪,该仪器采用多种先进技术,包括自动化测量、全参数液晶显示、DDS数字直接合成的信号源等技术。

优化使测试回路残余电感减至低,彻底* Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

主要技术参数如下:

1. 信号源频率覆盖范围100kHz160MHz

2. 信号源频率精度3×10-5 ±1个字, 6位有效数字;信号频率覆盖比110001;采样精度12BIT(高精度A/D采样);

3Q值测量范围:11000自动/手动量程;Q值分辨率0.14位有效数字;Q值测量工作误差<5%

4Q值量程分档:301003001000、自动换档或手动换档;

5.电感测量范围:1nH140mH,分辨率0.1nH,自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能;

6.电容直接测量范围:1pF25nF,分辨率0.1pF,准确度 150pF以下±1pF150pF以上±1%                                      

7.主电容调节范围: 17240pF(一体镀银成型,精度高);带步进马达,电容自动搜索;                                        

8 材料测试厚度:0.1mm~10mm

9 合格指示预置功能范围:51000

10LCD显示参数FLCQLtCt波段等;

11.环境温度:0℃+40℃

12.消耗功率:约25W;电源:220V±22V50Hz±2.5Hz

13.(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:

数显式微杆,平板电容器:

极片尺寸: 38mm

极片间距可调范围:≥15mm

夹具插头间距:25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×104 1MHz

测微杆分辨率:0.001mm

测试极片:材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

*液体杯:测量极片直径 Φ38mm 液体杯内径Φ48mm 、深7mm

14. 电感组LKI-1

分别由0.05μH0.1μH0.5μH2.5μH10μH50μH100μH1mH5mH10mH十个电感组成。

北京航天伟创设备科技有限公司还生产其他型号介电常数仪,型号如下:

 

 LDJD-A型介电常数及介质损耗测试仪  10kHz~70MHz  

 

 LDJD-B型介电常数及介质损耗测试仪  10kHz~110MHz

 

 LDJD-C型介电常数及介质损耗测试仪  100kHz~160MHz

LDJD-C型硅油介电常数测量仪——航天伟创

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