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高频介电常数测试设备

简要描述:LDJD-C高频介电常数测试设备可用于固体绝缘材料在高频(100KHz-160MHz)下,高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介电常数和介质损耗因数,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等电性能的测试。可选配自动测试模块进行介电常数的自动测量。

  • 产品型号:LDJD-C
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-12-06
  • 访  问  量:1195

详细介绍

品牌自营品牌产地类别国产
应用领域建材,电子,印刷包装

LDJD-C高频介电常数测试设备

LDJD-C高频介电常数测试设备可用于固体绝缘材料在高频(100KHz-160MHz)下,高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介电常数和介质损耗因数,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等电性能的测试。可选配自动测试模块进行介电常数的自动测量。

适用标准

GB/T 1409-2006 《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法》(等效IEC 602501969

GB/T 1693-2007 《硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法》

ASTM D150 Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation 

 手动介电常数测试方法与步骤

1.       测试前主机建议预热30分钟

2.       把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。

3.       在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。

4.       被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间(当材料介电大于6的情况下建议材料≥2mm),样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平整。(小于0.5mm的样品测试,请参考附录三,叠加测试法)

5.       调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO 清零按键,初始值设置为0。

  1. 再松开两片极片,把被测样品夹入平板电容上下极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,直到平板电容极片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量(旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量),使主机处于谐振点(Q值大值)上。
  2. 取出S916测试夹具中的样品,这时主机又失去谐振(Q值变小),此时调节S916测试夹具的测微杆,使主机再回到谐振点(Q值大值)上,读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.
  3. 计算被测样品的介电常数:

     Σ=D2 / D4

 

自动介电常数测试方法与步骤(需选配自动测试软件模块)

1.     自动介电常数测试时,基本步骤同手动一样,只是主机支持通过数据模块记录S916测试夹具的数据,并自动计算出介电常数。

2.     使用数据转换连接线,连接S916数据传输接口和介电常数测试主机背板上的四芯插座。

3.     按主机键盘区“2”按键di一次

4.     当S916测试夹具夹紧待测材料,调节主机的主调电容使主机谐振,此时第二次按主机键盘区“2”按键。此时主机将保留终的D2数据

5.     拿出被测材料,再次调节S916测试夹具的上下极片,直到主机再次谐振,后再一次按下主机键盘区“2”按键,主机保存D4数据,并计算出介电常数的数值。显示下图界面,此时主机已经把计算出的介电常数e显示在显示屏上。

6.     按主机键盘区“Q”按键退出测试,结束测试。

试验步骤

1. 试样的制备

试样应从固体材料上截取,为了满足要求,应按相关的标准方法的要求来制备。


应精确地测量厚度,使偏差在±0.2%0.005mm)以内,测量点应均匀地分布在试样表面。必要时,应测其有效面积。

2.条件处理

条件处理应按相关产品规范规定进行。

3.测量

电气测量按说明书进行测量。

1MHz或更高频率下,必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时,可采用同轴接线系统,当用变电抗法测量时,应提供一个固定微调电容器。

  

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