LDJD-B和LDJD-C型介电常数及介质损耗测试仪介绍

LDJD-B和LDJD-C介电常数测试仪主要区别：

LDJD-B介电常数和介质损耗测试仪

LDJD-C介电常数和介质损耗测试仪

LDJD-B/LDJD-C介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

LDJD-B/LDJD-C介电常数测试仪以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达70MHz /160MHz，信号源具有信号失真小、频率、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的性。LDJD-B主电容调节用传感器感应，电容读数，且频率值可设置。LDJD-C介电常数测试仪主电容调节用步进马达控制，电容读数更加，频率值和电容值均可设置。

LDJD-B/LDJD-C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。

LDJD-B/LDJD-C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。